Sphere3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/絕對反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

Sphere3000球面光學元件反射率顯微測試儀-特點：

Ø         顯微測定微小領域的反射率  物鏡對焦于被測物微小區域（φ60μm）

Ø         CIE顏色測定  X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長等

Ø         檢測速度快  高性能探測器，能在幾秒內實現重現性高的測定

Ø         消除背面反射光 無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率

Sphere3000球面光學元件反射率顯微測試儀-技術參數

型號	Sphere-3000（I型）	Sphere-3000（II型）	Sphere-3000（III型）
檢測范圍	380~800nm	380~1000nm	380~1100nm
波長分辨率	1nm	1nm	1nm
相對檢測誤差	﹤1%	﹤1%	﹤0.5%
測定方法	與標準物比較測定
被測物再現性	±0.1%以下 (2σ)（380nm~410nm）  ±0.05%以下 (2σ)(410nm~800nm)	±0.1%以下 (2σ)（380nm~410nm） ±0.05%以下 (2σ)(410nm~1000nm)	±0.1%以下 (2σ)（380nm~410nm） ±0.05%以下 (2σ)(410nm~1100nm)
單次測量時間	﹤1s
精度	0.3nm
被測物N.A.	0.12(使用10×對物鏡時) 0.24(使用20×對物鏡時)
被測物尺寸	直徑>1mm 厚度>1mm(使用10×對物鏡時) 厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)
被測物 測定范圍	約φ60μm(使用10×對物鏡時)      約φ30μm(使用20×對物鏡時)
設備重量	約15kg（光源內置）
設備尺寸	300(W)×550(D)×570(H)mm
使用環境	水平且無振動的場所 溫度：23±5℃；濕度：60％以下、無結露，
操作系統	Windows XP, Windows Vista，Win7
軟件	分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜折射率（有干涉條紋）測定